电子元件伏安特性测量的设计
电子元件伏安特性测量的设计(任务书,开题报告,外文翻译,论文10000字)
摘要
本文首先对电子元件伏安特性测试的研究目的、意义、研究状况及发展进行了介绍，并简要介绍了课题的主要内容和方案；对于基于虚拟仪器的晶体管测试的设计，先对虚拟仪器技术、LabVIEW 8.5图形化编程软件和数据采集设计进行了简要的介绍，通过课题相关的一些知识，引出了二极管和三极管伏安特性曲线测量设计的原理和算法，并通过电路图，更清晰地说明了测量原理；最后介绍了实验硬件电路的搭建和测量操作的流程，并对论文做了一定的总结。
论文的主要内容是设计了基于虚拟仪器技术和通用数据采集卡完成晶体管特性测试实验方案，传统的测量方法需要使用多种测量仪器，势必会影响实验效果和造成一定的误差。虚拟仪器技术的应用将计算机硬件资源与仪器硬件有机的融合，通过分别对型号为IN4148的二极管和型号为2SC9014的三极管进行实际测量，证明其能够满足测试实验要求。本设计主要运用电压扫描法和Monte-Carlo法获取伏安特性曲线。
关键词：虚拟仪器技术 晶体管特性 LabVIEW 数据采集
The design of test ofvolt-ampere characteristics of electronic components [资料来源：www.doc163.com]
ABSTRACT
Firstly,the research purpose,significance,research status and development about test of volt-ampere characteristics of electronic components were introduced in this paper, and it briefly describes the main contents and program issues;For the design of the transistor-based virtual instrument test,firstly about virtual instrument technology, LabVIEW 8.5 graphical programming software and data acquisition design it make a brief introduction,through some knowledge the issues related,which writes the principle and algorithm of the design of diode and triode current characteristic measurement,and a circuit diagram more clearly illustrates the measurement principle; Finally, the paper introduces the process of building of hardware circuit and measuring operation, and it made a certain conclusion.
The main content of the paper is designing the experimental program based on virtual instrument technology and universal data acquisition card to complete the test of the transistor characteristic.The traditional measurement methods require multiple measuring instruments, which is bound to affect the experimental results and causes some errors.The application of Virtual Instrument Technology make computer hardware resources and instrumental hardware an organic integration.By the respectively actual measurement of model IN4148 diodes and model 2SC9014 transistors,it prove that it meets the requirements of test experiments.The design mainly applys voltage scanning method and Monte-Carlo method.
Key words: Virtual Instrument Technology;Transistor characteristics;LabVIEW;Data Collection
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目录
摘要 2
ABSTRACT 3
第一章 绪论 5
1.1课题背景 5
1.1.1课题的研究目的及意义 5
1.1.2课题的研究与发展 5
1.2 课题的主要内容及方案 6
第二章 基于虚拟技术的晶体管特性测试简介 8
2.1 虚拟仪器概述 8
2.2 LabVIEW简介 9
第三章 硬件平台构建及测量流程 12
3.1硬件平台的搭建 12
3.1.1数据采集卡的介绍 12
3.1.2系统硬件总体结构平台 13
3.1.3电子元件介绍 13
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3.1.4 二极管伏安特性测量的硬件电路 14
3.1.4三极管伏安特性测量的硬件电路 14
3.2 测量流程 15
第四章 电子元件伏安特性测试的设计 17
4.1 基于虚拟仪器的晶体管测量系统的功能 17
4.2电子元件伏安特性的测量设计 17
4.2.1 二极管正向伏安特性测量的设计 17
4.2.2三极管伏安特性测量的设计 23
第五章 总结和展望 32
5.1 总结 32
5.2 展望 32
参考文献 33
致谢 34